ATECLOUD-IC可测试产品类型
二极管、三极管、绝缘栅型场效应管、结型场效应管、单向和双向可控硅、普通和高速光耦、整流桥、共阴共阳二极管及多阵列器件等各类半导体分立器件自动化测试
ATECLOUD-IC与传统芯片测试系统区别
ATECLOUD-IC芯片自动测试系统 | 传统芯片自动测试系统 |
√ 开放式可成长性软件平台 √ 灵活多工位扩展 √ 多种程控接口并行控制 √ 无代码编程，拖拽式搭建 √ 数据报告生成简便 √ 可视化生产管理看板功能 √ 支持多种平台运行 √ 兼容更多测试场景 √ 用户仪器自由选型 √ 独立账号权限管理 | × 功能受限 × 不易升级 × 多工位管理不便 × 并行控制能力有限 × 数据导入导出不便 × 报告生成效率低 × 可视化管理程度低 |
ATECLOUD-IC解决测试痛点
☁ 人工手动测试，效率低，需要提高测试效率和准确性；
☁ 测试产品种类繁多，测试方法多样，客户需要灵活的解决方案，以适应未来的变化和需求；
☁ 记录测试数据量大，容易出错，需要提高测试效率和准确性；
☁ 长时间测试，工作量大，需要降低测试成本；
☁ 现有软件系统迭代繁琐且耗时，不能持续兼容新产品；
☁ 需要满足特定的测试需求，如外购配件等；
☁ 需要符合自身芯片测试方法；
☁ 需要寻找国产化替代方案；
ATECLOUD-IC测试项目清单
温度测试 | 耐电压测试 | 引脚可靠性测试 | ESD抗干扰测试 | 运行测试 | X射线侵入测试 |
低温测试 | 高压脉冲电压测试 | 引脚丝球可靠性测试 | 抗干扰测试 | 电流测试 | 焊接不良 |
高温测试 |
| 引脚焊点可靠性测试 |
| 漏电流测试 | 接触不良 |
|
| 引脚线弹性可靠性测试 |
| 芯片功耗测试 | 引脚偏移 |
|
|
|
| 内存测试 |
|
|
|
|
| 时钟频率测试 |
|
二极管测试 | 三极管测试 | 场效应管测试 |
|
|
|
| 自动识别极性 | 直流电流放大倍数 | 饱和漏电流 |
|
|
|
| 最大整流电流 | 穿透电流 | 夹断电压 |
|
|
|
| 正向压降 |
| 开启电压 |
|
|
|
ATECLOUD-IC测试仪器及配件
系统通过GPIB、RS232、LAN、USB等多种通讯方式集成多种类测试仪器，系统兼容多种品牌仪器型号，全面降低企业产品测试成本，提高产品测试效率，测试数据智能分析，全面提高企业产品生产质量。
用户仪器可自由选型：兼容2000多种不同厂家、型号的仪器，不会被固定硬件限制选择，经济适用。
ATECLOUD-IC功能介绍
快速方案搭建，一键运行测试
● 支持多种测试项目配置并可重复使用，批量测试
● 自动存储测试数据和图片数据
● 具有设备自检功能，提示甲方设备离线或不存在
● 测试过程实时观测，自动判别产品是否合格
ATECLOUD-IC芯片测试平台方案搭建界面
ATECLOUD-IC芯片测试平台运行测试界面
记录报告
● 历史测试列表展示：已完成的历史测试以列表形式展示，可按试验的关键信息、时间等条件进行查询。
● 详细历史试验信息：对每一次历史试验，可查看试验基本信息、试验时间信息、试验报警记录信息、试验数据监测信息，并进一步查询每个监测点的历史记录。
数据洞察，发挥数据无限价值
● 数据权限：为不同管理层创建数据看板，高效生产；
● 自定义分析图表：甲方可自定义分析图表，多层级、多维度展现生产过程；
● 数据导入与对接：支持系统与外部数据导入，与其他系统数据对接；
● 大数据和云计算：充分利用大数据和云计算，发挥数据的无限价值；
● 生成图表：支持生成图表，方便数据分析。
数据总览示意图
数据图表示意图
ATECLOUD-IC平台应用案例
上海某电源管理芯片生产企业
被测产品：电源管理芯片
ATECLOUD-Power部分测试项目展示
