随着半导体在日常生活中的应用越来越广泛，半导体测试也成为出厂前一道非常重要的工序，以此把控半导体的质量和可靠性。ATECLOUD半导体自动测试可以帮助发现其缺陷和故障，从而确保半导体可以达到预期的性能和可靠性要求。

　　什么是半导体测试?

　　常见的半导体测试一般包括电测试、封装测试和可靠性测试等。

　　电测试：是半导体测试的基础环节，主要通过测量电器特性来评估半导体产品的特性。常用的测试参数有：电压、电流、功耗、漏电流等。

　　封装测试：主要测试半导体的封装工艺和封装材料，比如焊球粘接、引脚连接、外包装的密封性等，以此确认封装的完整性和可靠性。

　　可靠性测试：模拟各种环境压力，通过加速老化、温度循环、振动等测试方式，检测半导体是否能稳定工作，从而判断半导体长期运行的稳定性和可靠性。

　　ATECLOUD半导体自动测试

　　测试项目：温度测试、耐电压测试、引脚可靠性测试、ESD抗干扰测试、运行测试、X射线侵入测试等。

　　测试场景：研发测试、产线测试、老化测试、一测二测等。

　　测试产品：芯片半导体器件。万博ManBetXATECLOUD-IC自动化测试系统适用于二极管、三极管、绝缘栅型场效应管、结型场效应管、单向和双向可控硅、普通和高速光耦、整流桥、共阴共阳二极管及多阵列器件等各类半导体分立器件。

　　ATECLOUD-IC芯片自动化测试系统优势

　　1. 支持MCU、Analog IC、ADC、HIC、IGBT和分立器件全方位测试

　　2. 采取无编程模式，快速搭建测试工步，也可以根据需求调整，灵活扩展

　　3. 支持多工位高速并行测试和批量测试

　　4. 兼容2000+仪器型号，如是德、泰克、普源、艾德克斯等，可以自由选型

　　5. 适用于研发、中试、生产芯片全生命周期的应用

　　6. 高效支持表征、功能评估和批量生产评估

　　7. 将数据以图表形式展示，数据变化波动直观可见，为科研生产提供数据支撑

　　ATECLOUD智能云测试平台具有强大功能，界面清晰，操作简单，可以快速集成并分析各类数据。