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电子元器件退化实验项目成功交付

  时间: 2019-07-31      3710    

2019年7月30日,由万博全站ManBetX官网下载自主开发的高度集成的电子元器件退化实验项目成功交付。

NSAT-2000电子元器件自动化测试系统.png 

本次交付的电子元器件退化实验系统包括电源模块测试、FPJA/DGP测试、继电器测试、电容测试等,均一次性上电调试正常运行,所有测试参数均达到客户要求的技术指标和测试规范。

电子元器件退化实验系统组成.png

该电子元器件退化实验系统由总控单元、测试仪器、环境实验设备、被测产品四部分组成。

该电子元器件退化实验系统由环境实验、实时监测为模拟元器件实际的工作环境,首先会将被测产品(FPFA/DSP芯片、电磁继电器、电容、电源模块)放入三种不同的环境下进行自动化环境试验,以达到元器件正常工作所要求的使用环境条件。

系统提供的测试通道至少为16通道,确保每个模块能够进行正常测试。

电源模块的测试通道数为4路,系统采用多电源多通道的方式完成任意通道或全通道的测试,相比继电器切换可靠性更高,且通过电源模块在温度、振动、负载变化三大类应力的加速老化下能够实现在恒流、恒压、恒功率以及恒阻(CC/CV/CP/CR)四种不同测试模式下电压、电流和功率的测试。

电源模块测试.png

对特定的FPGA/DSP芯片实现温度、振动、电压和频率四大类应力下的加速老化试验后,结合逻辑分析仪、示波器等仪器对FPGA/DSP芯片进行电气测试。FPGA/DSP芯片测试输出通道数为3路,系统可实现对任意IO管脚进行IO高低电平电压测试、IO电流测试、IO输出特性图形化测试以及逻辑功能测试。

 FPGA/DSP测试.png

电容在温度、振动、电压三大类应力下的加速老化后对其进行耐压测试、电阻测试以及容量的测试。

 电容测试.png

继电器主要检测它在温度、振动应力下的触点电阻、继电器吸合时间、吸合电压、释放时间、释放电压的测试。

继电器测试.png

测试完成后用户可对本次测试数据进行保存,为增强数据的溯源性和易查找性,本系统采用MySQL数据库,所有的测试数据实时存入数据库中,用户可通过软件界面的查询功能查看任意时间段的历史数据,通过对数据的比对,从元器件的选择和测试等方面进行改进,以降低产品的故障率。

测试查询.png

现场部署图

image.png现场部署图.png 

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