吉时利Keithley二极管/晶体管/场效应管I-V特性曲线测试方案
集成电路的组成包含了大量的三端口、双端口器件,如我们常见的二极管、晶体管、场效应管等,这些半导体分立器件是组成集成电路的基础。我们常常在测试实验中用I-V特性曲线来表示微电子器件、工艺及材料特性,I-V曲线的值也决定了这些元器件的基本参数。通常用吉时利数字源表进行这些半导体分立器件测试的过程中,由于源表本身无法将测试数据及I-V曲线图进行保存,为了提高测试效率及测试数据的准确性记录且可追溯,吉时利源表软件的诞生将替代手动繁琐操作快速保存测试数据及图像。
分立器件I-V特性测试的主要目的是通过实验,帮助工程师提取半导体器件的基本I-V特性参数,并在整个工艺流程结束后评估器件的优劣。
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